ტალღის სიგრძის ულტრაიისფერი 355 ნმ ლაზერული 254 მმ FL F-Theta სკანირების ლინზა

ულტრაიისფერი 355 ნმ ლაზერული 254 მმ FL F-Theta სკანირების ლინზა

355 ნმ F-თეტა სკანირების ლინზები ფართოდ გამოიყენება გალვანომეტრიულ სკანირების სისტემებში ლაზერული მარკირებისთვის; მათ შეუძლიათ ფოკუსირებული ლაქის მიწოდება სკანირების ველის მრავალ წერტილში. ჩვენ ასევე ვაწვდით ლინზების ადაპტერებს მსოფლიოს ძირითადი სკანირების თავაკის მომწოდებლებისთვის.

ეს ულტრაიისფერი F-თეტა სკანირების ლინზა ხშირად გამოიყენება გალვანომეტრიული სკანირების სისტემებში:

• ულტრაიისფერი ლაზერული მარკირება და გრავირება
• მაღალი სიზუსტის მიკროდამუშავება
• PCB და ნახევარგამტარული დამუშავება
• მინისა და პლასტმასის მარკირება
• დახვეწილი ჭრის მახასიათებლები

ულტრაიისფერი F-თეტა სკანირების ლინზები მინიმალური დამახინჯებით უზრუნველყოფს ფოკუსირებულ წერტილს სკანირების ველის მრავალ წერტილში. Wavelength Opto-Electronic ასევე აწვდის ლინზების ადაპტერებს მსოფლიოს წამყვანი სკანირების თავაკის მომწოდებლებისთვის, რაც უზრუნველყოფს თავსებადობას სტანდარტულ გალვანომეტრულ სისტემებთან.